「形狀測量激光顯微系統　VK-X100/X200 系列」的特點如下；

        ?高分辨率，大景深觀察
        (1) 高分辨率， 最大放大24000 倍
        (2) 完全聚焦的清晰圖像
        (3) 符合溯源性要求

        ?仿佛彩色 SEM
        (1) 16 bit 激光彩色觀察
        (2) 放置并且測量，您可以在幾秒鐘內進行分析
        (3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量?？刹鹦稖y量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。

        ?無損輪廓和粗糙度測量
        (1) 非接觸式設計，可用于測量軟質的工件
        (2) 方便定位測量區域
        (3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小

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