IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn)；完全符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

    技術(shù)參數(shù)

    扭曲度：±15°±1°雙向d=86mm

    正反向各15°，總扭曲角度30°

    測(cè)試周期：1~9999次

    測(cè)試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz

    長(zhǎng)邊位移量為20mm(+0.00mm,-1mm)

    長(zhǎng)邊小位移量為2mm±0.50mm

    短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1mm)

    長(zhǎng)邊小位移量為1mm±0.50mm

    電壓：AC220V±5%

    外形尺寸：L670XW380XH220

    功率：35W

    儀器重量：70kg

    使用方法

    (1)儀器接通電源,將計(jì)數(shù)器,數(shù)值調(diào)到三個(gè)“0”,放上標(biāo)準(zhǔn)卡。

    (2)按扭曲啟動(dòng)按扭(此時(shí)只有點(diǎn)功能),看搖擺指針是否在±15°之間作往復(fù)運(yùn)動(dòng)。

    (3)按下彎曲啟動(dòng)按扭,使彎曲卡位處于距離遠(yuǎn),看指針?lè)謩e在某一刻度,或者用卡尺測(cè)量臺(tái)面到卡的高度；

    然后再按下彎曲啟動(dòng)按扭,使得彎曲卡位處于距離近,看指針?lè)謩e在另一刻度,或者用卡尺測(cè)量臺(tái)面到卡頂端高度,兩高度之差分別是10mm和20mm。