覆層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。

    可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。

    本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法JB/T8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)xJJG889─95《磁阻法測(cè)厚儀》。

    覆層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)：

    測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍；

    精度高：本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上*能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類(lèi).比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；

    穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；

    功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

    覆層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)：

    采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

    覆層測(cè)厚儀基本原理：

    本儀器采用了磁性測(cè)厚法，可無(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。

    基本工作原理是：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)。測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆層的厚度。

標(biāo)簽:                                    覆層測(cè)厚儀