使用數字涂層測厚儀時，有些細節我們往往會忽略，下面為大家列舉一些這些小細節。
　　a）基體金屬特性
　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
　　b）基體金屬厚度
　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，進行校準后，可以測量。
　　c）邊緣效應
　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
　　d）曲率
　　不應在試件的彎曲表面上測量。
　　e）讀數次數
　　通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
　　f）表面清潔度
　　測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
　　g）磁場
　　周圍各種電氣設備所產生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作
　　h）測頭取向
　　測頭的放置方式對測量有影響，在測量時應該與工件保持垂直