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      類型分類:
      科普知識
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      FFC連接器

      菲希爾X射線探測器工作原理

      發布日期:2022-04-17 點擊率:56

      菲希爾X射線探測器工作原理

      XRF分析方法的最后一個關鍵組成部分是探測器,它接收熒光輻射并以高精度進行測量。來自探測器的信息被傳遞到分析軟件并進行相應處理。探測器的類型決定了您可以使用XRF光譜儀解決哪些測量任務。
      我們提供市場上探測器組合。這意味著只有在Fischer,您才能找到適合您的測量任務并以最佳方式解決它的探測器。有三種類型各具特定優勢的探測器。

      在測量技術專家的組合中,久經考驗的比例計數器(PC)管是不可或缺的。它提供了一個巨大的探測器區域,帶有一個略微彎曲的窗口。這個特點使它在大量熒光信號到達探測器時,能夠實現高計數率。它可以在距離樣品20–80 mm處進行測量。PC管通常用于1–30μm范圍內的涂層厚度測量和小測量點。另一個優點是,PC管對樣品與探測器對準的精度和測量距離設置的敏感性比較低。PC管配合Fischer開發的漂移補償為標準,提供了穩定性。

      對于要求更高的鍍層厚度測量,需要更高的能量分辨率。在這種情況下,使用硅PIN二極管的XRF分析儀是一個很好的選擇。這種半導體探測器也可以成功地用于簡單的材料分析。因此,硅PIN探測器是我們探測器產品組中間環節。

      高質量XRF光譜儀使用硅漂移檢測器(SDD)。這種探測器是強大的。它具有特別好的能量分辨率和特別高的檢測靈敏度。因此,在測試材料的元素組成時,SDD提供了所有探測器中性能。樣品中僅以極低濃度存在的元素的熒光信號也能很容易檢測到。此外,配備SDD的儀器可精確確定納米范圍內的鍍層厚度,并允許對復雜的多層結構進行可靠評估。

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