介紹

標(biāo)智GM220涂層測厚儀采用了磁性測厚法， 是一種便攜式涂覆層測厚儀， 它渡層等)覆層厚度上的測量。被廣泛地用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、 商檢等檢測領(lǐng)域。

特點或功能

LCD直觀顯示測量值、測量狀態(tài)

采用高靈敏度探頭， 測量準(zhǔn)確

具有零點、 二點和基本三種校驗方法， 可隨時快捷的進行系統(tǒng)誤差修正

具有單次、 連續(xù)和偏差三種測量方式

可記錄、 存儲及查看測量數(shù)據(jù)

可統(tǒng)計測量數(shù)據(jù)的最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測量次數(shù)

蜂鳴器提示功能

公英制轉(zhuǎn)換功能

低電指示功能

自動關(guān)機功能

LCD背光燈功能

設(shè)計簡單、結(jié)構(gòu)緊湊，便于隨身攜帶使用

二、操作說明

標(biāo)準(zhǔn)片:

a. 已知厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片， 簡稱標(biāo)準(zhǔn)片。

b. 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片:采用已知厚度的、 均勻的、 并與基體牢固結(jié)合的非磁性覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。

基體:

a.對于GM220涂層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度， 應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 為了證實標(biāo)準(zhǔn)片的適用性， 可用標(biāo)準(zhǔn)基體與待測試件基體上所測得的讀數(shù)進行比較。

b.如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度， 可采用下面兩種方法進行校準(zhǔn):

(1).在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；

(2).用一足夠厚度的，  電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件， 但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。 (對兩面有覆蓋層的試件， 不能采用襯墊法。)

c.如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準(zhǔn)， 則覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率， 應(yīng)與試樣的曲率相同。

三、其他事項

1.影響測量精度的因素及有關(guān)說明：

a.基體金屬磁性：

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的） ， 為了避免熱處理及冷加工因素的影響， 應(yīng)使用與被測件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn),亦可用待涂覆金屬進行校準(zhǔn)。

b.基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。 大于這個厚度， 測量就不受基體金屬厚度的影響。 本儀器的臨界厚度值見產(chǎn)品規(guī)格中的要求(≤0.5mm)。

c.邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。 因此在靠近被測件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

d.曲率

被測件的曲率對測量有影響。 這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。

e.表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。 粗糙程度增大，影響增大。 粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差， 每次測量時， 在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，  以克服這種偶然誤差。 如果基體金屬粗糙， 還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬鍍件上取幾個位置校對儀器的零點； 或用對基體金屬沒有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后， 再校對儀器的零點。

f.磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場， 會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，

h.探頭壓力器測頭用彈簧保持一個基本恒定的壓力。

i.探頭的放置保持垂直。

j.  被測件的變形的數(shù)據(jù)。

2. 使用儀器時應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定：

a.基體金屬特性磁性和表面粗糙度相似。

b.基體金屬厚度

c.邊緣效應(yīng)不應(yīng)在被測件彎曲表面上測量。

e.讀數(shù)次數(shù)積內(nèi)取幾個讀數(shù)。 覆蓋層厚度局部差異， 也要求在指定的面積內(nèi)

f.表面清潔度質(zhì)等， 但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

3.關(guān)于測量結(jié)果的說明：

a.根據(jù)統(tǒng)計學(xué)的觀點， 一次讀數(shù)是不可靠的。 因此任何由本儀器顯示間內(nèi)由測頭和儀器完成的。

b.為使測量更加準(zhǔn)確， 可用本儀器在待測點多次測量， 并用刪除功能

計量： 平均值(AVG)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測量次數(shù)(NO)、

c.按照國際標(biāo)準(zhǔn)， 最終的測量結(jié)果可以表達為：

CH=A±2D

其中：  CH覆層厚度

A多次測量的平均值(AVG)

D標(biāo)準(zhǔn)偏差(dFR)