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      產(chǎn)品分類

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      類型分類:
      科普知識
      數(shù)據(jù)分類:
      智能繼電器

      電子儀器校準(zhǔn)的不確定度計算方法

      發(fā)布日期:2022-04-17 點(diǎn)擊率:167

        通常在一些設(shè)備儀器校準(zhǔn)或儀器校正試驗(yàn)中,常使用一些大型的專用電測設(shè)備,進(jìn)行電信號的錄取及數(shù)據(jù)處理。以往,對這類非標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的計量檢定或校準(zhǔn),多采用更高精度的通用電子測量儀器作為其參考標(biāo)準(zhǔn)。但是,隨著設(shè)備系統(tǒng)的發(fā)展,鑒定試驗(yàn)用測試設(shè)備的精度也越來越高,有些與現(xiàn)有的計量參考標(biāo)準(zhǔn)精度相當(dāng)。若仍采用目前的計量標(biāo)準(zhǔn)對這些電測系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn),就必須考慮參考標(biāo)準(zhǔn)的測量不確定度,以及在此情況下被測系統(tǒng)擴(kuò)展不確定度的估計方法。我們將就此問題進(jìn)行討論與分析。

        新的不確定度估計方法

        1.一般被測系統(tǒng)的不確定度估計

        對于不確定度的估計可采用測量列結(jié)果的統(tǒng)計分布估計,并以實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差表征。同時,也可采用基于經(jīng)驗(yàn)或參考標(biāo)準(zhǔn)儀器信息的假定概率分布估計。當(dāng)參考標(biāo)準(zhǔn)與被校準(zhǔn)系統(tǒng)精度相當(dāng)時,測量結(jié)果統(tǒng)計分布估計的測量次數(shù)(樣本量)引起的誤差,以及參考標(biāo)準(zhǔn)自身的不確定度帶來的誤差將被考慮。

        新的不確定度估計方法是將參考標(biāo)準(zhǔn)與被校準(zhǔn)系統(tǒng)同時對一設(shè)定的電參量進(jìn)行重復(fù)測量,參考標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)上一級計量檢定合格,測量標(biāo)準(zhǔn)值在其技術(shù)指標(biāo)所規(guī)定的置信區(qū)間內(nèi),測量結(jié)果符合正態(tài)分布,于是有不確定度

        式中:t是所給置信概率下置信區(qū)間的包含因子;

        σRef是參考標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的總體標(biāo)準(zhǔn)偏差,此參數(shù)可由技術(shù)指標(biāo)中所給的擴(kuò)展不確定度求得;

        k是樣本量修正因子,它是指在與σRef相同的置信概率的情況下,由于有限次測量而對應(yīng)置信區(qū)間包含因子的修正值;

        SDUT是被校準(zhǔn)系統(tǒng)統(tǒng)計測量的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差;

        δ是參考標(biāo)準(zhǔn)與被校準(zhǔn)系統(tǒng)統(tǒng)計測量的樣本均值之差。

        公式(1)推導(dǎo)如下:

        設(shè)X1, X2分別為參考標(biāo)準(zhǔn)及被校準(zhǔn)系統(tǒng)(DUT)的測量讀數(shù),X2的測量誤差可簡單表示為X1- X2。首先考慮用標(biāo)準(zhǔn)偏差來表示的標(biāo)準(zhǔn)不確定度,對于擴(kuò)展不確定度,只需在各自分布的方差前乘以置信因子。

        由概率論正態(tài)分布的定義可知,方差σ2就是無窮多次測得值誤差平方的平均值。有:

        又因?yàn)椴淮_定度可用測量結(jié)果的統(tǒng)計分布來評價,對于正態(tài)分布可用標(biāo)準(zhǔn)偏差來表征。于是有:

        在式(1)中σRef是由參考標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)說明書中的擴(kuò)展不確定度按B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度計算而得。而對于大多數(shù)電子儀器公司如HP , Fluke和Datron/Wavetek,它們給出的不確定度指標(biāo)其置信概率均為99.7%,其置信區(qū)間半寬度包含因子為3。當(dāng)采用這些公司的儀器作參考標(biāo)準(zhǔn)時,測量結(jié)果不確定度的置信概率也要求與之相當(dāng)。而由于在實(shí)際測量中,測量次數(shù)有限,SDUT不是σ的無偏估計,當(dāng)與參考標(biāo)準(zhǔn)不確定度取相同的置信概率時,必須對被校準(zhǔn)系統(tǒng)的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的置信區(qū)間半寬度進(jìn)行修正。即SDUT乘以修正因子K。表1給出了95%和99%置信概率下,各種測量次數(shù)時k的取值。

        例如:當(dāng)參考標(biāo)準(zhǔn)的不確定度其置信概率為95%時,相應(yīng)的置信區(qū)間半寬度為2σ。而實(shí)際測量次數(shù)為l0次,此時公式(1)中的K就不能為2,而應(yīng)該是3.38.由公式(1)的推導(dǎo)可知,公式(1)的計算結(jié)果實(shí)際上表征了被測系統(tǒng)的擴(kuò)展不確定度,其包含因子為3,置信水平為99.7%。由于被校準(zhǔn)系統(tǒng)本身也是測量系統(tǒng),因此用擴(kuò)展不確定度比采用合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度來描述更為恰當(dāng)。

        幾種特殊情況下不確定度的計算

        在實(shí)際工作中,對于被測系統(tǒng)而言,雖然總是存在實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差。但有時由于被測系統(tǒng)顯示位數(shù)的限制,在統(tǒng)計測量時,并不能觀測得到。此時,公式(1)中的SDUT=0。而對于參考標(biāo)準(zhǔn)而言,即使統(tǒng)計觀測結(jié)果的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差為零,在公式(1)中的σRef仍將根據(jù)其技術(shù)指標(biāo)所給擴(kuò)展不確定度及置信概率進(jìn)行計算。參考標(biāo)準(zhǔn)及被測系統(tǒng)的統(tǒng)計測量數(shù)據(jù)主要是用于獲得δ值。在這種情況下,公式(1)變?yōu)?

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